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日本日置 LCR測(cè)試儀 IM3536 DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率 ● 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量 ● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中

日置LCR測(cè)試儀 IM3533\IM3533-01 應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域 ● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度是我司以往產(chǎn)品的10倍。 ● 內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。

日置LCR測(cè)試儀 IM3523 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。 ● 內(nèi)置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間

日本日置LCR測(cè)試儀3511-50概要： 1.高速測(cè)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） 2.高精度： ± 0.08% 3.內(nèi)置比較器 4.精巧，非常專業(yè)，5ms快速測(cè)量LCR

100kHz～120MHz的寬頻帶 高速LCR測(cè)試（6ms/采樣） 拆卸式前置放大器可選擇 為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)摹柏?fù)載補(bǔ)償功能