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日本日置 LCR測試儀 IM3536 DC，4Hz~8MHz測量頻率 ● 測量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測量時間：較快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量 ● 可內部發(fā)生DC偏壓測量 ● 從研發(fā)到生產線活躍在各種領域中

日置LCR測試儀 IM3533\IM3533-01 應用覆蓋線圈&變壓器生產到研發(fā)等諸多領域 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產品的10倍。 ● 內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。

日置LCR測試儀 IM3523 應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。 ● 內置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時間

日本日置LCR測試儀3511-50概要： 1.高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） 2.高精度： ± 0.08% 3.內置比較器 4.精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR

100kHz～120MHz的寬頻帶 高速LCR測試（6ms/采樣） 拆卸式前置放大器可選擇 為比較標準元件提供補償?shù)摹柏撦d補償功能